Equipos Experimentales
Espectrómetro Raman/PL con AFM acoplado SOLEIL Horiba
Espectrómetro Raman/PL de última generación con AFM. Permite la obtención de medidas Raman y PL con resolución micrométrica en modo microscopio. Cuenta con 4 láseres de excitación: 325, 532, 638 y 785 nm; y diversas redes de difracción.
Alcanza su máximo potencial junto con el equipo AFM para realizar medidas de espectroscopía Raman y PL amplificadas por punta (TERS/TEPL). Esto permite obtener medidas AFM y TERS/TEPL con resolución nanométrica, de gran interés para el estudio de sistemas como las nanoestructuras semiconductoras y los materiales 2D.
FESEM LEO-1530 Carl Zeiss
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo. Permite la obtención de imágenes de microscopía electrónica con resolución nanométrica (~ 10 nm), así como la obtención de medidas de catodoluminiscencia (CL) y medida de corrientes inducidas por haz de electrones (EBIC).
- CL Gatan con detectores de luz visible (CCD de Si) e infrarrojo (array de InGaAs). Permite la obtención de espectros de CL, imágenes mono y pancromáticas, en conjunción con las imágenes SEM.
- Obtención de medidas EBIC. Sistema de adquisición equipado con un electrómetro de bajo ruido (convertidor/amplificador) MODEL DLPCA-200, FEMTO, que permite la obtención de imágenes EBIC y su correlación con las imágenes SEM. Estas medidas son fundamentales para el análisis de defectos en multitud de dispositivos semiconductores.
Corrientes Inducidas por Haces de Luz (LBIC)
Técnica íntegramente desarrollada por el grupo, equipada con dos láseres duales (639 – 830 nm y 853 – 975 nm, respectivamente), mesa motorizada y objetivos ópticos intercambiables (desde x10 hasta x100).
Equipos de medida de electroluminiscencia (EL) y fotoluminiscencia (PL)
Técnica íntegramente desarrollada por el grupo, que permiten realizar medidas de EL y PL tanto diurnas como nocturas sobre módulos fotovoltaicos.
- Cámara con sensor de InGaAs Hamamatsu C12741-03 con una resolución de 640×512 píxeles, objetivos de distintas focales: 8, 12, 16 y 50 mm, y compatible con sistemas de microscopia.
- Trazador de curvas IV para módulos fotovoltaicos HT Instruments SOLAR I-Ve para instalaciones de hasta 1500V y 15A.
- Cámara termográfica Workswell WIRIS® Pro con una resolución de 640×512 píxeles y modo súper resolución de 1266×1010 píxeles, objetivos intercambiables de 9 y 19 mm de focal y cámara RGB full HD integrada.
Servicios de la Unidad de Microscopía Avanzada del Parque Científico de la UVa
Además del equipamiento propio del grupo se cuenta con el equipamiento de los servicios centrales de la Universidad de Valladolid, que incluye, entre otros, los siguientes equipos:
- Microscopio Electrónico de Barrido ambiental (ESEM) de Emisión de Campo Quanta 200-FEI equipado con EDX (EDAX Genesis).
- Microscopio Electrónico de Transmisión TEM 100 kV JEM-1011HR.
- Microscopio Electrónico de Transmisión TEM 200 kV JEM-FS2200 HRP con detector HAADF y difracción de electrones, así como análisis EELS y microanálisis EDX (INCA Energy 250 TEM).